Transmisyon Elektron Mikroskobu Laboratuvarı

TEM numune hazırlama ve analizi

•  TEM Görüntüleme
• Nano boyut analizi
•  Görüntüleme ve kırınım tekniklerini birlikte kullanarak malzemelerin mikro yapısal incelenmesi ve kristal yapılarının belirlenmesi
• STEM Görüntüleme
• Kırınım Spektrumu Görüntüleme
•  EDS Spektrum Görüntüleme
•  TEM için Numune Hazırlama; Kimyasal çözelti ile metal numuneler için elektro potansiyel farkı ile TEM numunesi hazırlama

• TEM (Transmisyon Elektron Mikroskobu)

Tecnai G² F20 S-TWIN

• Çok yönlü ve çok amaçlı 200 kV STEM/TEM/Nano-Analiz Sistemi
• Noktasal çözünürlük (nm) 0.24
•  Information limit (nm) ≤ 0.15
•  HR STEM çözünürlük (nm) 0.2
•  Cs objektif (mm) 1.2
• Cc objektif (mm) 1.2
•  Odak uzaklığı (mm) 1.7
• Doğru merkezli dönme açısı maksimum  ± 40°
• TEM için Numune Hazırlama Cihazı (Struers TenuPol-5)

• TÜBİTAK, 113M162, (01.10.2013 – 01.10.2015) “Plazma Elektrolitik Oksidasyon (PEO) Yöntemiyle Ticari Saflıkta Zirkonyum Yüzeyine Tek Aşamalı Doğrudan Hidroksiapatit Bazlı Biyoseramik Fazların Kaplanması” 147.400 TL
• TÜBİTAK, 113M134, (15.09.2013 – 15.09.2015) “AZ91 Mg Alaşımlarının Korozyon ve Aşınma Dayanımını Artırmak için Geçiş Metali Nitrür Kaplamaların İncelenmesi” 233.760 TL
• GTÜ, BAP-2015-A35, (01.05.2015 – 01.05.2017) “Plazma Elektrolitik Oksidasyon Yöntemi ile Yüzeyi Oksitlenen Alüminyum Köpük Malzemeye Alüminyumun İnfiltrasyonu ile Kompozit Malzeme Üretimi” 20.610 TL
•  TÜBİTAK, 107M476, (2008-2010) “Hafif Metallerin (Al, Mg, Ti ve Alaşımlarının) Mikroark Oksidasyon Yöntemiyle Aşınma ve Korozyona Dayanıklı Oksit Kaplanması”, 146.000 TL
• TÜBİTAK, 105M184, (2006-2008) “Metallerin Elektrolitik Plasma Yüzey Kaplama Yöntemiyle Modifikasyonu ve Sertleştirilmesi”, 216.400 TL