RF-Glow Discharge Optik Emisyon Spektrometresi (Horiba Jobin Yvon RF-GDOES)

RF-GDOES cihazı, bulk haldeki malzemelerin yüzey ve ara yüzey kimyasal kompozisyonlarını belirlemek için kullanılan yüksek hassasiyetli bir analiz cihazıdır. Birkaç nanometreden 150 µm’ye kadar olan kaplama kalınlıklarında, ppm (parts per million) seviyesinde hassasiyetle yüzeyden ara yüzeye ve bulk yapıya kadar derinlik profili analizi gerçekleştirebilmektedir.

Analiz yapılabilen malzeme grupları:

• Metaller ve metal alaşımları,

• Seramikler,

• Camlar,

• Polimer kaplamalar

• Yarı iletkenler.

Cihaz, bu malzemelerin yüzey ve iç yapılarının kimyasal kompozisyonlarını son derece hassas (ppm seviyelerinde), hızlı ve ekonomik bir şekilde analiz etmektedir. Ayrıca Hidrojen (H), Karbon (C), Azot (N) ve Oksijen (O) gibi elementleri belirleyebilir ve tüm elementler için 18 ile 25 pm arasında optik çözünürlük sunmaktadır.